详情介绍
金相材料显微镜MX120M
金相材料显微镜MX120M
同步设计了全套明暗场两用物镜,暗场照明亮度比传统暗场物镜提高 2 倍以上。采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术,多层宽带镀膜技术,采用长寿命LED光源,配合多种高度功能化的附件,50X 物镜的有效工作距离 7.9mm,100X 物镜的有效工作距离也达到了 2.1mm,更有20X 超长工作距金相物镜,大幅拓展了 MX 机型的应用领域。,能满足各种检验需要,可用于明场、简易偏光、微分干涉观察,专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查。
防震支架设计
机身由六端支架支撑,低重心、高稳定性全金属机架,具备强效的抗震功能,确保像质稳定。
单颗大功率5W白色LED照明,带斜照明机构。切换至斜照明时,可以使物体表面不同材质部分呈现立体图案,增加观察的对比度与视觉效果。
诺曼尔斯基微分干涉衬比系统
在三目观察筒上,可以配接摄影摄像装置,将双目观察到的图像输出至监视器或计算机,进行图像分析、处理、保存或传送。使用专用的 C 接口与中继镜,可以和数码相机联接,快速进行拍照,并获取图像。