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奥林巴斯半导体与平板显示器检测显微镜
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型号:MX63/MX63L

更新时间:2024-12-21  |  阅读:1779

详情介绍

 

 

奥林巴斯半导体与平板显示器检测显微镜

让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅

MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸 大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件,获得根据应用定制的系统。

这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下,可以简化从观察到报告生成的整体工作流。

大尺寸样品检测

多功能

设计满足电子行业的人体工学和安全性要求,并以更多功能提高分析能力。

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人性化

简洁的显微镜设置让用户调整和重复系统配置更加轻松。

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*的成像技术

我们成熟可靠的光学器件和优良的成像技术可获得清晰图像,并完成可靠检测。

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模块化

用户可利用适合其应用的组件进行系统定制。

模块化

应用图片库

我们的*图像管理功能可为您呈现您真正想要观察的内容。

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 *的分析工具

MX63系列的各种观察功能可生成清晰锐利的图像,让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。

奥林巴斯半导体与平板显示器检测显微镜从不可见到可见:MIX观察与图像采集

通过将暗场与诸如明场、荧光或偏光等其他观察方法结合使用,MIX观察技术能够获得*的观察图像。MIX观察技术可让用户发现用传统显微镜难以看到的缺陷。暗场观察所用的环形LED照明器具有在时间仅使用四分之一象限的定向暗场功能。该功能可减少样品光晕,对于样品表面纹理的可视化非常有用。

 

 

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